Библиотека ГОСТов - главная

ГОСТ Р 50044-92

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции

заменён Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров.
Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры

Текст ГОСТ Р 50044-92



Другие ГОСТы

ГОСТ Р 57962-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения плотности
ГОСТ Р 57963-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения прочности при сжатии
ГОСТ Р 57964-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения содержания влаги и аппрета
ГОСТ 19799-74 Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
ГОСТ 30350-96 Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
ГОСТ 17447-72 Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры
ГОСТ 24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
ГОСТ 24613.2-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
ГОСТ 24613.6-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
ГОСТ 24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
ГОСТ 24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие01.07.1993
ЗаменяющийГОСТ Р 50044-2009
Дата завершения срока действия01.01.2011
Дата издания01.09.1994 переиздание

Скачать ГОСТы - главная