ГОСТ Р 8.630-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки

действующий Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629. Межповерочный интервал микроскопа - один год

Текст ГОСТ Р 8.630-2007

 С поправками и изменениями:
Изменение №1 к ГОСТ Р 8.630-2007 от 01.04.2011

Изменение №1 к ГОСТ Р 8.630-2007 от 01.04.2011

Другие ГОСТы

ГОСТ Р ИСО 22309-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроанализ электронно-зондовый. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным номером от 11 (Na) и выше
ГОСТ 8.302-78 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроманометры жидкостные компенсационные с микрометрическим винтом типа МКВ-250. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.096-82 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроманометры образцовые 1-го разряда типа МКМ. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.211-84 Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры окулярные винтовые. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.411-81 Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры рычажные. Методика поверки
ГОСТ 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки
ГОСТ 8.003-83 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
ГОСТ Р 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки
ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
ГОСТ Р 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.02.2008
Дата издания	08.02.2011