ГОСТ Р 59743.2-2022

Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта

принят Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз

Текст ГОСТ Р 59743.2-2022



Другие ГОСТы

ГОСТ Р ИСО 11252-2016 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Устройства лазерные. Минимальные требования к документации
ГОСТ Р 59742-2021 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Элементы оптические для лазерного оборудования. Методы определения коэффициента зеркального отражения и коэффициента направленного пропускания
ГОСТ Р ИСО 13695-2010 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений спектральных характеристик лазеров
ГОСТ Р ИСО 11554-2008 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы испытаний лазеров и измерений мощности, энергии и временных характеристик лазерного пучка
ГОСТ Р 59740-2021 Оптика и фотоника. Лазеры полупроводниковые для определения малых концентраций веществ. Методы измерений характеристик
ГОСТ Р 59735-2021 Оптика и фотоника. Материалы для лазерной наплавки. Проволока порошковая. Технические условия
ГОСТ Р 59743.1-2021 Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 1. Термины и определения. Классификация
ГОСТ Р 59605-2021 Оптика и фотоника. Приемники излучения полупроводниковые. Фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Термины и определения
ГОСТ Р 59607-2021 Оптика и фотоника. Приемники излучения полупроводниковые. Фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерений фотоэлектрических параметров и определения характеристик
ГОСТ Р 59608.3-2021 Оптика и фотоника. Покрытия оптические. Часть 3. Классификация по стойкости к воздействию внешних факторов и методы испытаний
ГОСТ Р 59739-2021 Оптика и фотоника. Покрытия оптические. Классификация
ГОСТ Р 58566-2019 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы испытаний
ГОСТ Р 70038-2022 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений фокусного расстояния
ГОСТ Р 70213-2022 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений распределения освещенности (облученности) по полю изображения и коэффициента виньетирования

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.03.2023
Дата издания	01.08.2022