ГОСТ 18986.21-78
Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
действующий Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Текст ГОСТ 18986.21-78
Другие ГОСТы
ГОСТ Р 58237-2018 Средства ухода за кишечными стомами: калоприемники, вспомогательные средства и средства ухода за кожей вокруг стомы. Характеристики и основные требования. Методы испытанийГОСТ Р 59449-2021 Средства ухода за мочевыми стомами, при недержании мочи у мужчин, при задержке мочи. Характеристики и основные требования. Методы испытаний
ГОСТ Р 56677-2015 Средства физической защиты инженерно-технические. Кодирование, идентификация и маркировка. Общие требования
ГОСТ Р 51758-2001 Среды питательные для ветеринарных целей. Методы биологических испытаний
ГОСТ 29112-91 Среды питательные плотные (для ветеринарных целей). Общие технические условия
ГОСТ Р ЕН ИСО 20349-2013 ССБТ. Обувь защитная от термических рисков и выплесков расплавленного металла на литейных и сварочных производствах. Общие технические требования. Разработка ГОСТ Р. Прямое применение МС - IDT (ISO 20349:2010).
ГОСТ Р 54086-2010 Стабилизаторы давления. Общие технические условия
ГОСТ 10279-80 Стаканы-отстойники стеклянные для автотракторных двигателей. Технические условия
ГОСТ Р 59281-2020 Ставни и ворота роллетные. Технические условия
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Дополнительная информация
Английское название | |
Введен в действие | 01.01.1980 |
Дата издания | 01.08.2002 |