ГОСТ 8.003-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методика поверки

действующий Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодической поверок инструментальных микроскопов всех типов, по ГОСТ 8074. Стандарт распространяется также на отечественные инструментальные микроскопы с характеристиками, аналогичными приведенным в ГОСТ 8074

Текст ГОСТ 8.003-2010

 С поправками и изменениями:
Поправка к ГОСТ 8.003-2010 от 12.03.2021

Поправка к ГОСТ 8.003-2010 от 12.03.2021

Другие ГОСТы

ГОСТ 8.247-77 Государственная система обеспечения единства измерений. Метроштоки для измерения уровня нефтепродуктов в транспортных и стационарных емкостях. Методы и средства поверки
ГОСТ Р ИСО 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроанализ электронно-зондовый. Дифракция обратнорассеянных электронов. Измерение среднего размера зерна
ГОСТ Р ИСО 22309-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроанализ электронно-зондовый. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным номером от 11 (Na) и выше
ГОСТ 8.302-78 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроманометры жидкостные компенсационные с микрометрическим винтом типа МКВ-250. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.096-82 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроманометры образцовые 1-го разряда типа МКМ. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.211-84 Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры окулярные винтовые. Методы и средства поверки
ГОСТ 8.411-81 Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры рычажные. Методика поверки
ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки
ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
ГОСТ Р 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки
ГОСТ Р 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки
ГОСТ 8.003-83 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методы и средства поверки

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.03.2012
Взамен	ГОСТ 8.003-83
Дата издания	12.01.2012