ГОСТ 18986.14-85

Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений

действующий Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны

Текст ГОСТ 18986.14-85



Другие ГОСТы

ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
ГОСТ 25529-82 Диоды полупроводниковые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
ГОСТ 17465-80 Диоды полупроводниковые. Основные параметры
ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	30.06.1986
Взамен	ГОСТ 18986.14-75, ГОСТ 19656.8-74
Дата издания	01.05.2004