ГОСТ 18986.4-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости

действующий Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод

Текст ГОСТ 18986.4-73

 С поправками и изменениями:
Изменение №1 к ГОСТ 18986.4-73 от 01.02.1982 (текст интегрирован в текст или описание стандарта)
Изменение №2 к ГОСТ 18986.4-73 от 01.03.1987 (текст интегрирован в текст или описание стандарта)

Другие ГОСТы

ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
ГОСТ 15606-70 Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения
ГОСТ 25529-82 Диоды полупроводниковые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
ГОСТ 17465-80 Диоды полупроводниковые. Основные параметры
ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.01.1975
Взамен	ГОСТ 10964-64
Дата издания	01.07.2000