ГОСТ 24613.6-81

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции

действующий Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного)

Текст ГОСТ 24613.6-81

 С поправками и изменениями:
Изменение №1 к ГОСТ 24613.6-81 от 01.07.1984 (текст интегрирован в текст или описание стандарта)

Другие ГОСТы

ГОСТ 17447-72 Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры
ГОСТ 24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
ГОСТ Р 50044-92 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции
ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
ГОСТ 24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
ГОСТ 24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
ГОСТ 24613.11-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
ГОСТ 24613.4-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
ГОСТ 24613.0-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров
ГОСТ 24613.18-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
ГОСТ 24613.2-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	30.06.1982
Дата издания	01.05.1984