ГОСТ Р 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

действующий Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации

Текст ГОСТ Р 57394-2017

Другие ГОСТы

ГОСТ Р 57963-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения прочности при сжатии
ГОСТ Р 57964-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения содержания влаги и аппрета
ГОСТ 19799-74 Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
ГОСТ 30350-96 Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
ГОСТ 17447-72 Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры
ГОСТ 24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
ГОСТ Р 50044-92 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции
ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
ГОСТ 24613.6-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
ГОСТ 24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
ГОСТ 24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
ГОСТ Р 70969-2023 Микросхемы интегральные на основе базовых кристаллов. Термины и определения
ГОСТ Р 71068-2023 Микросхемы интегральные микропроцессорные. Система параметров

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.01.2018
Дата издания	17.04.2017