ГОСТ 24459-80

Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры

действующий Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств: оперативные запоминающие устройства; ассоциативные запоминающие устройства; запоминающие устройства на приборах с зарядной связью и цилиндрических магнитных доменах; постоянные запоминающие устройства с многократным электрическим программированием; усилители воспроизведения; формирователи разрядного и адресного токов

Текст ГОСТ 24459-80



Другие ГОСТы

ГОСТ Р 57961-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения коэффициента заполнения объема и плавучести
ГОСТ Р 57962-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения плотности
ГОСТ Р 57963-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения прочности при сжатии
ГОСТ Р 57964-2017 Микросферы стеклянные полые. Метод определения содержания влаги и аппрета
ГОСТ 19799-74 Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
ГОСТ 30350-96 Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
ГОСТ 17447-72 Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры
ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
ГОСТ 24613.6-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
ГОСТ 24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
ГОСТ 24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
ГОСТ Р 50044-92 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.01.1982
Взамен в части	ГОСТ 19420-74 в части запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств, ГОСТ 17447-72 в части пп. 3 и 4
Дата издания	26.01.1981