ГОСТ Р 59740-2021

Оптика и фотоника. Лазеры полупроводниковые для определения малых концентраций веществ. Методы измерений характеристик

действующий Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые лазеры, используемые для определения малой концентрации веществ, (ППЛ) и устанавливает методы измерений температурной и токовой зависимости длин волн излучения и ширины спектральной линии ППЛ для этих применений. Методы, установленные в настоящем стандарте, следует применять в соответствии с ГОСТ Р ИСО 13695

Текст ГОСТ Р 59740-2021



Другие ГОСТы

ГОСТ Р 59422.2-2021 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Стандартные оптические элементы. Часть 2. Стандартные оптические элементы для лазерного оборудования, работающего в инфракрасной области спектра. Общие технические требования
ГОСТ Р 58373-2019 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Термины и определения
ГОСТ Р ИСО 11145-2016 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Термины, определения и буквенные обозначения
ГОСТ Р ИСО 11252-2016 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Устройства лазерные. Минимальные требования к документации
ГОСТ Р 59742-2021 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Элементы оптические для лазерного оборудования. Методы определения коэффициента зеркального отражения и коэффициента направленного пропускания
ГОСТ Р ИСО 13695-2010 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений спектральных характеристик лазеров
ГОСТ Р ИСО 11554-2008 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы испытаний лазеров и измерений мощности, энергии и временных характеристик лазерного пучка
ГОСТ Р 59739-2021 Оптика и фотоника. Покрытия оптические. Классификация
ГОСТ Р 58566-2019 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы испытаний
ГОСТ Р 70038-2022 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений фокусного расстояния
ГОСТ Р 70213-2022 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений распределения освещенности (облученности) по полю изображения и коэффициента виньетирования
ГОСТ Р 59743.2-2022 Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
ГОСТ Р 59743.1-2021 Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 1. Термины и определения. Классификация
ГОСТ Р 59735-2021 Оптика и фотоника. Материалы для лазерной наплавки. Проволока порошковая. Технические условия

Дополнительная информация

Английское название
Введен в действие	01.03.2022
Дата издания	26.10.2021